AFM(Atomic Force Microscopy) -Basic Mode- Non Contact (Topography and Phase)
AFM(Atomic Force Microscopy) -Basic Mode- Non Contact (Topography and Phase)
Rp 500.000


DESKRIPSI LAYANAN | Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan…

  • Lab Nuklir Serpong - Sub Laboratorium Bahan Maju Nuklir
  • Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
  • Puspiptek - Serpong
    Gd. 71 KST BJ Habibie, Kel. Muncul, Kec. Setu, Kota Tangerang Selatan 15314
  • 08119811572
  • labrads@brin.go.id
  • Satuan Layanan: Per Sampel Per Citra
  • Waktu Pengerjaan Layanan: 1 Hari Kerja
  • Kuota Pelayanan Per Hari: 1
  • Kapasitas Layanan: 1 Per Sampel Per Citra
  • Jumlah Minimal Pengajuan: 1
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Ajukan Layanan
Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM

Basic Mode : Non-Contact Mode
Syarat Sampel : Sampel padat dan rata (flat)

Syarat Pengajuan:
  • File Data Foto
  • File Dukung Lainnya
Nama Berkas Ukuran Berkas
Berkas SOP Layanan 0.19 MB
Template File Data Foto 0 MB
Template File Dukung Lainnya 0 MB

Layanan Terkait